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TU Berlin

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Prof. Dr.-Ing. Christian Boit

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Leiter des Fachgebietes Halbleiterbauelemente
seit 1. Juli 2002


Kontakt
Telefon: +49 30 314-25520
Fax: +49 30 314-29761
Raum: E 103
E-Mail: christian.boit[AT]tu-berlin.de

Sprechzeiten
Dienstag 15:00-16:00 Uhr (nach Anmeldung), in der vorlesungsfreien Zeit nach Vereinbarung

Eintrag bei Google scholar (Link)

Lehrveranstaltungen

  • Halbleiterbauelemente (Vorlesung, WS)
  • Praktikum Grundlagen und Bauelemente (Praktikum, WS)
  • Physik und Technologie der Halbleiterbauelemente (Vorlesung, WS)
  • Technologie-Praktikum: Herstellung eines MOS-Transistors (Praktikum, WS)
  • Leistungshalbleiterbauelemente (Vorlesung, SS)
  • Debug von Halbleiterbauelementen in integrierten Schaltungen (Integrierte LV, SS)
  • Ausgewählte Kapitel der Halbleiterbauelemente (Seminar, SS)
  • Solarzellen-Messtechnik [ehemals: Analyse des Aufbaus von Solarzellen und -Modulen] (Praktikum, SS)


Biografie

  • Studium der Physik und Promotion in Elektrotechnik über die Bestimmung der Ladungsträgerlebensdauer in Leistungsbauelementen mit Hilfe der Messung von Rekombinationsstrahlung bei Prof. Dr. Gerlach an der TU Berlin
  • 1986 Start in der Forschung und Entwicklung der Siemens AG in München im Entwicklungprojekt für 10kV-Thyristoren,
  • 1988 Pionier in der Einführung der Elektrolumineszenz als Messmethode für die Mikroelektronik-Fehleranalyse (unter dem Namen Photonen-Emissions-Mikroskopie)
  • 1990 Wechsel in das erste IBM-Siemens Joint Venture, die Entwicklung des 64M DRAM in East Fishkill, NY, USA für parametrische Charakterisierung
  • 1993 Übertritt in den Siemens-Bereich Halbleiter (später Infineon Technologies AG) als Leiter der Technologie-Fehleranalyse in München-Perlach,
    ab
  • 1997 als Direktor firmenverantwortlich für Strategie und Koordination in Fehleranalyse und Leiter der gesamten Fehleranalyse-Abteilung in München
  • VDE-itg-Preis 1993 in Frankfurt/M. für einen Review-Artikel
  • Verschiedene Lehrveranstaltungen an der Universität New Mexico, Albuquerque, sowie auf Seminaren verschiedener internationaler Konferenzen
  • Gründungs- und Direktoriumsmitglied der Fehleranalysegesellschaft EDFAS,
    Mitglied im VDE, darin Sprecher der Fachgruppe 8.5 "Qualität und Zuverlässigkeit in integrierten Schaltungen"
  • Mitorganisator der ISTFA, der weltweit führenden Konferenz für Fehleranalyse elektronischer Bauelemente, 2002 als General Chairman

Publikationen

O. Gref and M. Weizman and H. Rhein and O. Gabriel and U. Gernert and R. Schlatmann and C. Boit and F. Friedrich (2015). Investigation of laser-fired point contacts on KOH structured laser-crystallized silicon by conductive atomic force microscopy. Applied Surface Science, 1-2.


C. Helfmeier and A. Beyreuther and A. Fox and C. Boit (2015). Ultra sensitive measurement of dielectric current under pulsed stress conditions. Microelectronics Reliability, 2254-2257.


S. Tajik and H. Lohrke and F. Ganji and J. Seifert and C. Boit (2015). Laser Fault Attack on Physically Unclonable Functions. Proceedings of the 2015 Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC). IEEE computer society, 85-96.


D. Abou-Ras and N. Schäfer and N. Baldaz and S. Brunken and C. Boit (2015). Electron-beam-induced current measurements with applied bias provide insight to locally resolved acceptor concentrations at p-n junctions. AIP Advances, 077191-1-7.


C. Boit (2015). Sicherheitsrisiken durch IC-Debugger und Diagnose-Tools. 25, SMARTCARD-Workshop Darmstadt 4. und 5. Feb. 2015. Fraunhofer Verlag, 30-35.


S. Tajik and E. Dietz and S. Frohmann and H. Dittrich and D. Nedospasov and C. Helfmeier and J. -P. Seifert and C. Boit and H.-W. Hübers (2015). A Complete and Linear Physical Characterization Methodology for the Arbiter PUF Family. Proceedings of COSADE 2015. Springer, 1-2.


C. Boit and H. Lohrke and P. Scholz and A. Beyreuther and U. Kerst and Y. Iwaki (2015). Contactless Visible Light Probing for Nanoscale ICs through 10 µm Bulk Silicon. Proceedings of the 35th Annual NANO Testing Symposium (NANOTS2015), 215-221.


P. Scholz and M. Sadowski and S. Kupijai and M. Henniges and C. Theiss and S. Meister and D. Stolarek and H. Richter and M. Boostandoost and C. Boit (2015). Turning sample into (re)solution: Focused Ion Beam shaped Solid Immersion Lenses. Proceedings of the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2015). ASM International, 66-70.


S. Tajik and E. Dietz and J.-P. Seifert and D. Nedospasov and S. Frohmann and C. Helfmeier and H. Dittrich and C. Boit (2014). Physical Characterization of Arbiter PUFs. Cryptographic Hardware and Embedded Systems – CHES 2014. Springer, 493-509.


A. Teodoreanu and R. Leihkauf and C. Boit and F. Friedrich and L. Korte (2014). On the Origin of the Peak-and-Through Signal in the Grain-Boundary Light-Beam-Induced-Current Characterization Technique - 2D Numerical Simulations. Proc. of 29th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition - EU PVSEC. WIP Munich, 25-30.


S. Tajik and D. Nedospasov and C. Helfmeier and J.-P. Seifert and C. Boit (2014). Emission Analysis of Hardware Implementations. Proceedings of 17th EUROMICRO DSD, Verona (I), August 27-29, 2014. IEEE press, 528-534.


C. Boit and N. Schäfer and D. Abou-Ras and C. Helfmeier and A. Glowacki and U. Kerst (2014). Backside Failure Analysis Techniques: What's the Gain of Silicon Getting Thinner?. Proceedings of the 21st International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2014). IEEE, 17-21.


C. Helfmeier and D. Nedospasov and S. Tajik and C. Boit and J.-P. Seifert (2014). Physical Vulnerabilities of Physically Unclonable Functions. Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE). IEEE, 1-4.


P. Scholz and N. Herfurth and M. Sadowski and T. Lundquist and U. Kerst and C. Boit (2014). Efficient and flexible Focused Ion Beam micromachining of Solid Immersion Lenses in various bulk semiconductor materials - an adaptive calibration algorithm. Microelectronics Reliability, 1794-1797.


C. Herzog and O. Bakaeva and C. Boit and B. Kanngießer and F. Friedrich (2014). Study on non-destructive identification of gallium concentration gradients in Cu(In, Ga)Se2 solar cells and their efficiency impact. Applied Physics Letters, 43904.


C. Helfmeier and R. Schlangen and C. Boit (2014). Focused ion beam contact to nonvolatile memory cells. Microelectronics Reliability, 1798-1801.


A. Glowacki and C. Boit and P. Perdu and Y. Iwaki (2014). Backside spectroscopic photon emission microscopy using intensified silicon CCD. Microelectronics Reliability, 2105-2108.


O. Gref and J. Sandström and M. Weizman and M. Rhein and S. Gall and R. Schlatmann and C. Boit and F. Friedrich (2014). Investigation of Laser-fired Rear-side Point Contacts of Laser-crystallized Silicon Thin-film Solar Cells by Conductive Probe Atomic Force Microscopy. Energy Procedia, 76-80.


J. Dietrich and D. Abou-Ras and S. Schmidt and T. Rissom and T. Unold and O. Cojocaru-Miredin and T. Niemann and M. Lehmann and C. Koch and C. Boit (2014). Origins of electrostatic potential wells at dislocations in polycrystalline Cu(In,Ga)Se2 thin films. Journal of Applied Physics, 103507.


R. Di Giacomo and R. Adami and V. Speranza and C. Barone and S. Pagano and P. Sabatino and G. Carapella and H. Wegner and C. Boit and A. De Girolamo Del Mauro and H. Neitzert (2014). Investigation of multiwalled carbon nanotube interconnection geometry and electrical characteristics of an CNT-filled aluminum microgap. Canadian Journal of Physics, 827-831.


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Adresse

Technische Universität Berlin
Fachgebiet Halbleiterbauelemente
Sekr. E4
Einsteinufer 19
10587 Berlin

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Tel +4930 314-24403
Fax +4930 314-29761

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