Publikationen nach Forschungsthemen

Die Arbeiten im Fachgebiet Halbleiterbauelemente - und somit auch unsere Veröffentlichungen - lassen sich unterteilen in den Bereich der integrierten Schaltkreise (ICs)

• Fehlerbehebung und -diagnose (IC - debug and diagnosis)
• Laserbasierte optische Analysen (IC - laser based optical analysis)
• Optische Analysen basierend auf Photonenemission (IC - photon emission based optical analysis)

Zudem gibt es

• Generelle Fehleranalyse an Halbleiterbauelementen (General semiconductor failure analysis)
• Analyse sicherheitsrelevanter Techniken und Anwendungen (Security)
• Forschung an High Electron Mobility Transistors (HEMTs)
• und zahlreiche Arbeiten an Solarzellen (Photovoltaics)