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TU Berlin

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Themen und Projekte

Debug & Diagnosis Integrierter Schaltkreise

  • Silicon Debug & Diagnosis von Integrierten Schaltkreisen mit Lokalisierungsverfahren durch die Chiprückseite für die Funktionsanalyse von Halbleiterbauelementen (in Zusammenarbeit mit Hamamatsu KK, Japan)
  • Nano - Circuit Edit von Integrierten Schaltkreisen mit Focused Ion Beam (FIB) durch die Chiprückseite (in Zusammenarbeit mit DCG Systems Inc. Fremont CA, USA und Infineon Technologies AG, München)
  • Zuverlässigkeitsrisiken in modernen Halbleitertechnologien (in Zusammenarbeit mit Global Foundries AG, Dresden, ehem. AMD und IMEC, Belgien)


Schutz von sicherheitsrelevanten ICs vor Angriffen

  • Helmholtz Research School on Security Technologies (in Zusammenarbeit mit SECT, TU Berlin; DLR, Berlin; NXP, Holland)
  • Photon FX² (mit Uni Bochum, gefördert durch das BMBF)


Charakterisierung und Analytik von photovoltaischen Bauelementen

  • Lokale Funktionscharakterisierung von Dünnschicht-Solarzellen (in Zusammenarbeit mit HZB Helmholtz-Zentrum Berlin und der gemeinsamen Initiative PVComB, dem Photovoltaik–Kompetenzzentrum für Dünnschicht– und Nanotechnologien Berlin, gefördert im Programm "Spitzenforschung und Innovation in den Neuen Ländern" durch BMBF und SENBWF (Nr. 03IS2151B))
    Link zum Abschlussbericht [1]
  • "Globe-Si" - Lokale Eigenschaftsanalyse von funktionellen Solarzellenschichten im Projekt "Großflächige Laserbehandlung für effiziente Silizium-Dünnschichtsolarzellen" (Globe-Si) gefördert vom BMU (Partner: HZB, FZ Jülich, IPHT Jena, Limo, Coherent, U Bielefeld)


Charakterisierung und Analyse von Höchstfrequenz-Bauelementen

  • Lokale Funktionscharakterisierung von GaN HEMT Höchtfrequenz-Bauelementen (in Zusammenarbeit mit FBH Ferdinand Braun Institut für Höchstfrequenztechnik)
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Zusatzinformationen / Extras

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